產品描述
| 微型光澤儀 新型智能的光澤測量 多年來，BYK微型光澤儀已成為光澤測量*可超越的工業標 準。它是*一集高精確度、使用簡便和多功能于一體的光澤 儀-為當今品質管理的標準而設計。除此之外，smart-chart作 為智能的數據通訊軟件,是專業的數據管理和有效數據分析 的理想工具。 明亮的彩屏顯示 易于閱讀-使用簡單符合人體工學和操作簡單是設計的要點所在。微型光澤儀的 體積不大也不小.剛好適合握在手中。滾輪操作、多語言顯 示和彩色顯示屏的簡易導航菜單使光澤測量從未變得如此簡單。 自動校準 標準板OK -校準OK精準的讀數要求有可信賴的校準。光澤儀和校標底座是一對 的組合-光澤儀的標準板被安置在校標底座內始終受到 很好的保護。 特別之處在于:智能的自動診斷功能確保長時間穩定的校 準，告訴您何時需要校準，甚至還能檢查標準板是否干凈。 易于操作，安全可靠。  | 測量涂料或金屬的光澤 -從啞光到鏡面光澤 |
| 智能測量模式滿足不同任務的需要 不同的工作需要不同的工具。使用儀器上的滾輪能簡單快速 地顯示所需功能-甚至無需通過電腦: 基本測量模式可為您快速簡單地測量少量樣品的工具。 統計測量模式并不僅僅顯示平均值，而且統計數據可用于判 斷是否有測量誤差或者用于樣品的均質性判定。您可自定義 所有想看到的數據:平均值，標準偏差，范圍，*大值/*小 值.. 差值模式允許您定義一個帶有合格/不合格允差的參考值，所 有實測值將與所選擇的參考值進行對比。合格/不合格將通過 高分辨率的彩色屏顯示出來-理想的生產控制模式。 連續測量模式是快速檢查大面積樣品的均質性z有效的方 法。您確定好測量間隔后將微型光澤儀在樣品上持續滑行， 即刻得到連續測量結果。測量結束后，屏幕顯示平均值、* 大/*小值的范圍。 |  |
| 技術性能: 工業領域中*可超越 無論您的生產環境有多糟糕或者允差控制有多嚴格，微型光 澤儀的準確性和可靠性被成千上萬的用戶所證明，它的品質 很好。 長期穩定的LED光源不僅能提供長期重復性高的結果，而且 不再需要更換燈泡，我們甚至對燈泡的使用壽命給出10年質 保期。 得益于優良的溫度控制技術，微型光澤儀保證測量數據高度 穩定-無論您身處實驗室還是移步至生產線上的“熱點”。 我們具有**的校準程序可確保生產的每臺光澤儀具有很好 的儀器間一致性。無論您的客戶在多遠的地方，只要他是我 們光澤儀眾多用戶中的一員，他就能夠得出跟您-樣的測量 數據。 |  |
| 微型三角度光澤儀 在正確的角度下- 觀察產品的變化 高中低光澤:您的應用屬于哪一種? 三角度光澤儀集20°, 60°, 85°三種角度于一體-如同單角度儀 器一樣便攜。三個角度在一臺儀器上使您能按國際標準迅速 覺察到質量的變化。  所有被選擇的角度在同一個點上測量，并立即顯示測量結果 包括:統計、差值、合格/不合格結果。 以下例子在20°角下兩個樣品的讀數更能顯示出兩個樣品間 光澤的差異:  | 為了清楚地得到從平光到高光的整個范圍內的光澤度差值，  |
| 微型三角度光澤儀μ 光澤和厚度測量集于一身 一個好的涂裝是使用盡可能少的涂料來達到客戶要求的質量 規格。光澤和厚度是評估涂層質量的重要參數。 微型三角度光澤儀u可在幾秒內在同一個測量點上同時測量這 兩個參數，不僅節省時間而且在現場使用也十分理想僅需使 用1臺儀器。 ■同時顯示20, 60°, 85°-用于高、中、低光澤涂料 ■磁性/非磁性兩用型探頭-在鋼或鋁基材上測量涂層厚度 |  |
| 新型光澤儀S系列 啞光表面處理不僅是新的設計趨勢，而且對于要求表面無反 射或低反射這類應用而言也是非常重要的-例如汽車內飾件。 通常有各種各樣的材料，從皮革到塑料，同時使用時需要和 諧-致。另外，從大顆粒到精細的條紋等各種不同的表面結 構通常呈現出非常低的光澤。為了確保在不同部件.上一致的 視覺感受，必須規定嚴格的允差范圍。 只有精準的測試儀器才能客觀地控制生產。新型光澤儀 S系列產品提升了60°角度下在低光澤(0-20GU) 范圍內的測 量精度。通過在光澤儀生產過程中具有**的校準程序，保 證了很好的精度。 |  |
| 技術指標 | |||
| 測量范圍 | 0- 20 GU | 20- 100 GU | 100- 2000 GU |
| 重復性 | 土0.1 GU | +0.2 GU | +0.2 % |
| 重現性 | 土0.2 GU | +0.5 GU | +0.5 % |
| 微型光澤儀XS 小部件用小口徑光澤儀 當今，很多產品不僅是由不同的部件構成，同時要求這些部 件具有類似的表面外觀。造型優美的設計已成為產品能否成 功的重要因素，諸如手機、電腦或者家用電器。需要將小部 件整合到大部件中并融為一-體，例如框架、按鍵以及裝飾性 的零部件。這些產品的大小和設計使它們很難用傳統的光澤 儀進行評估。 微型光澤儀XS為小口徑60°光澤儀，測量口徑2 x4mm，是測 量小部件光澤的理想方案，確保使之與大部件相統一。 額外新增的版本是增強型微型60°光澤儀XS-S,其技術性能適 用于測量非常低光澤表面的產品。 |  |
| 特殊應用的光澤測量 特殊的材料要求特殊的測量角度: 陶瓷材料，塑料薄膜和硬質塑料，紙張和硬紙板不僅可用20", 60°, 85*常規角度進行測量，也可按照行業標準選擇45°或 75°。 微型光澤儀45° 對于中低光澤產品，塑料薄膜和硬質塑料，不論透明還是不 透明材質，通常都用45角來測量。對于透光的薄膜，請用型 號為5015的黑色耐擦洗實驗板作為啞光黑色背景(174頁) 墊 于樣品背后。如果沒有合適的背景板，測量會發生錯誤。 標準的測量方法要求每個樣品至少測量三個點，以獲取光澤 均質性指征。微型光澤儀統計測量模式，可顯示平均值和差 值范圍或者顯示測量樣品的均質性的標準偏差值。 |  |
| 陶瓷、搪瓷和其他材料使用45°光澤儀，通過測量失光率可以 對比這些材料的耐酸性，耐堿性或者其他環境因素的影響。  值，確保得到有代表性的結果。 |
| 特殊應用的光澤測量 微型光澤儀75° 特別是有涂層的紙張，還有很多無涂層的紙張都需要進行光 澤控制。75° 光澤儀適用于大多數墨膜的紙張和硬板紙。顏 色的差異對測量光澤幾乎沒有影響。例如，一個白色產品表 面所測得的光澤只會比相同的黑色表面僅高出不到1個光澤 單位。 光澤非常高的紙張(漆面的，涂漆的，或者上過蠟的)需要 在20°角下測量光澤。 TAPPI(美國紙漿與造紙工業技術協會)標準中定義批量質檢 要求檢查至少十個樣品有無褶皺或其他瑕疵。smartlab 是理 想的文件處理和數據溝通的光澤測量軟件。項目管理功能記 錄材料隨時間推移的質量變化過程，并通過轉化為PDF或者 Excel格式發給相關人員。 另-個使用75特殊角度進行光澤測量的典型材料是聚乙烯板 | 微型光澤儀75° :特別應用在紙張、紙板和表面有結構的塑  |
| smart-chart軟件 智能的通訊方式 ■離線或者在線方式測量您的產品并專輸結果到smartlab Gloss軟件中。即刻，您能得到專業的QC報告，包含了數 據表和曲線圖。 ■在標準管理模塊中建立產品規范，產品合格-警告-不合 格的允差值會顯示在您的QC報告中。 ■在項目模塊管理您的實驗室工作，使用趨勢報告顯示生產 工藝的穩定性。 smart-process Gloss ■對于要求測量多個不同部位的產品，該軟件是理想的選擇。■設置編排檔案進行由菜單引導式的順序測量，樣品標識一 目了然。 高效的質量控制分析功能適用于高采樣率的過程控制。軟 件中用于存儲數據的SQL數據庫，允許處理較長時間周期內 的大型數組。 ■可對特定時間范圍內被多個參數標識的數據進行靈活的數 據分析。通過使用評分卡，趨勢報告圖表和SPC圖表監視您 生產過程的穩定性。 |  |
德國BYK光澤度儀4563
| 訂購信息 | |||||
| 型號 | 名稱 | 角度 | 應用 | 測量面積 | |
| 4560 | 新微型光澤儀20° | 20° | 高光澤 | 10x10mm | |
| 4561 | 新微型光澤儀60° | 60° | 中光澤 | 9x15mm | |
| 4562 | 新微型光澤儀85° | 85° | 低光澤 | 5x38mm | |
| 4563 | 新微型三角度光澤儀 | 20°60°85° | 各種光澤 | 參見各角度 | |
| 4564 | 新微型三角度光澤儀μ | 20°60°85° | 各種光澤 | 參見各角度 | |
| 4565 | 新微型光澤儀60°S | 60° | 中光澤 | 9x15mm | |
| 4566 | 新微型三角度光澤儀S | 20°60°85° | 各種光澤 | 參見各種角度 | |
| 4567 | 新微型光澤儀45° | 45° | 陶瓷，塑料，薄膜 | 9x13mm | |
| 4568 | 新微型光澤儀75° | 75° | 紙張，聚乙烯 | 7x24mm | |
| 4569 | 新微型光澤儀60°XS | 60° | 中光澤 | 2x4mm | |
| 4570 | 新微型光澤儀60°XS-S | 60° | 中光澤 | 2x4mm | |
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基本配置：主機，校準底座，可追溯的證書，USB線纜，電池，操作手冊 攜帶箱 軟件下載：smart-lab Gloss或smart-process Gloss帶2個秘鑰 注意：軟件下載后，兩個軟件包可免費試用30天。此后，用戶需要決定其中一個軟件并注冊。 延長質保服務：請參見技術服務章節 系統需求： 操作系統：32位:windows7SP1或8.1 Microsoft.NET Framework 4 硬件：推薦Core 2 Duo,2.2GHz,i7或相當的配置 內存：4GB RAM，推薦8GB 硬盤可用空間：*少300MB 顯示器分辨率：1280x1024像素或更高 端口：可用的USB端口 | 測量范圍1 | 0-100GU | 100-2000GU | ||
| 重復性2 | ±0.2GU | ±0.2% | |||
| 重現性2 | ±0.5GU | ±0.5% | |||
| 光譜敏感度 | CIE standard observer for illuminant CIE-C | ||||
| 測量時間 | 0.5秒/每一角度 | ||||
| 厚度 |
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| 基體 | Fe：磁性，NFe：非磁性 | ||||
| 測量范圍 | 0-500μm | ||||
| 精度 | ±（1.5μm+2%測量值） | ||||
| 內存 | 999個讀數包括日期和時間 | ||||
| 接口 | USB | ||||
| 電源 | 一節1.5v堿性5號電池可測4,000次或使用USB端口 | ||||
| 尺寸 | 155x73x48mm | ||||
| 重量 | 0.4kg | ||||
| 操作溫度 | 15-40℃ | ||||
| 相對濕度 | 高達85%，不結露 | ||||
| 45°和70°光澤儀見前頁 S型光澤儀見前頁 | |||||
