腦電性能模擬器
SEEG 100腦電性能測(cè)試儀
腦電圖性能模擬器SEEG100,專(zhuān)為法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的 EEG 腦電性能測(cè)試儀,符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):IEC 60601-2-26:2012、GB 9706.226-2021、JJG 1043、JJF 1388、JJF 1390。 適用于研發(fā)、法規(guī)符合性及產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試
產(chǎn)品詳情
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
腦電性能模擬器SEEG100,專(zhuān)為法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的EEG腦電性能測(cè)試儀,符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn): IEC 60601-2-26:2012、JJG 1043、JJF 1388、JJF 1390。適用于研發(fā)、法規(guī)符合性及產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試
產(chǎn)品特點(diǎn)
1.專(zhuān)為法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的EEG腦電性能測(cè)試儀,符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn): IEC 60601-2-26
2.依據(jù)新的EEG國(guó)際法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)IEC 60601-2-26:2012所設(shè)計(jì)
3.精密電路設(shè)計(jì),可輸出1µV微小訊號(hào)
4.9通道自動(dòng)切換開(kāi)關(guān)可作個(gè)別信道的性能測(cè)試
5.內(nèi)建 620kΩ/4.7nF 輸出阻抗測(cè)試的EEG標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電路
6.良好的屏蔽與接地設(shè)計(jì)讓訊號(hào)輸出更加準(zhǔn)確
7.可做為EEG訊號(hào)撥放器,可撥放PhysioNet EDF、text、binary 格式的波型訊號(hào)
8.IEC 60601-2-26 小幫手可簡(jiǎn)化法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試所需花費(fèi)的人力與時(shí)間
規(guī)格