設備用途:
該設備是我司全新研發的一套AMB陶瓷基板缺陷終端檢測的自動化系統,包括上料機、AOI檢測機、下料機及工作站,可極大提高產品檢出率,從而為企業提高生產效率和節約生產成本,實現一站式自動化作業;上料機可批量放入待測產品料框、產品進料完畢后空料框自動流入下料機自動收料;AOI檢測機采用兩工位對來料產品掃描上下表面圖像、并檢測出多種缺陷大小及標記位置坐標、自動判定良品與壞品及分揀流入下料機;下料機分良品與壞品通道、自動收取檢測過的產品,料框收滿后自動流入工作站;工作站可查看產品檢測數據、顯示其缺陷圖信息、為方便用戶分析產品檢測情況及復檢。
設備特點:
1、軟件有用戶管理功能,可添加、修改及刪除登錄帳號;
2、軟件有設備運行狀態記錄功能,設備運行異常問題記錄功能;
3、檢測后可顯示缺陷類別、缺陷大小及所在位置坐標,可以進行缺陷摳圖及完整圖片保存;
4、對產品信息、批次信息、數量、良率可以進行統計,可以保存數據及查詢并可以導出到Excel;
5、可進行參數設置,可設置缺陷標記顏色,光源及相機等硬件參數;
6、可依據不同產品的各自外觀判定標準和尺寸圖紙,設置相應測試模板,并且測試模板可以保存和調取適用;
7、復檢工作站。
應用領域:
AMB陶瓷基板外觀瑕疵檢測。
技術參數:
序號 | 項 目 | 參 數 |
1 | 設備型號 | DE-AMB003 |
2 | 尺寸 | 2220mm(長)×1900mm(寬)×2000mm(高)(高度不含FFU) |
3 | 檢測效率 | ≥350pcs/H |
4 | 檢驗對象厚度 | 0.5mm-1.2mm |
5 | 檢驗對象 | AMB工藝陶瓷覆銅板,覆銅板狀態為切割后,裂片前,產品上有切割道 |
6 | 漏檢率 | 各種不良平均漏檢率≤2% |
7 | 誤檢率 | 各種不良平均誤檢率≤2% |
8 | 不良標記 | 對不良小顆樣品可進行激光打標方式標記,用戶可標記缺陷類型及統計各類缺陷數量 |
9 | 可檢測缺陷范圍 | 刻蝕不凈、鍍層不良,阻焊不良,色差,劃傷,氧化,凹陷等 |