手持式光譜儀用于的定量定性分析:
手持式光譜儀是一種功能強(qiáng)大,并且可擴(kuò)展的手持式光譜儀,廣泛用于金屬材料的成分分析,牌號(hào)鑒別和分選.它包括激發(fā)和配有可充電電池的光譜儀主機(jī)兩部分.它工作時(shí),既不需要?dú)鍤?也不需要放射源。 1、原理:手持式光譜儀屬于熒光光譜,實(shí)驗(yàn)室用的直讀屬于火花直讀光譜,是激發(fā)源不同 2、精度:手持式光譜儀主要用于定性分析,實(shí)驗(yàn)室用的火花直讀光譜主要用于定量分析 3、分析范圍:手持式光譜儀可分析金屬及礦石,并且可分析一些火花直讀無法激發(fā)的基體,例如鋯基體;實(shí)驗(yàn)室直讀光譜儀雖然分析的基體比手持式的少,但是相同基體里分析的元素種類比手持式的要多。
技術(shù)參數(shù): 重量: 1.6kg 尺寸: 30cm(L) x 10cm(W) x 28cm(H) 激發(fā)源: X射線管,Ag靶,40kV 檢測(cè)器: SI-PIN檢測(cè)器 操作系統(tǒng):HP掌上電腦:Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統(tǒng):Peltier 半導(dǎo)體冷卻系統(tǒng) 電源: 交、直流供電;充電鋰電池 工作條件:溫度:-20 ℃ ~ 55 ℃ 濕度:0~95%
手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子,擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子,發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級(jí)光電效應(yīng)或無效應(yīng)。所逐出的次級(jí)光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光,其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。因此,射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知,只要測(cè)出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來得到待測(cè)元素的特息。
手持式光譜儀設(shè)備維護(hù)與保養(yǎng):
1.手持式光譜儀使用過程中應(yīng)輕拿輕放,防止內(nèi)部零件受損。
2.保持檢測(cè)口薄膜的清潔,檢測(cè)口薄膜被污染可能引起檢測(cè)誤差。檢測(cè)口薄膜破損繼續(xù)使用可能會(huì)造成手持式光譜儀的損壞。應(yīng)及時(shí)清潔或更換。
3.被檢測(cè)物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機(jī)或金剛砂去除,以免造成測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確,被檢測(cè)物表面凹凸不平、有毛刺時(shí)應(yīng)在檢測(cè)時(shí)注意,防止手持式光譜儀檢測(cè)口薄膜損壞。檢測(cè)鍍件時(shí),要將電鍍層去除。
4.手持式光譜儀電池使用至10%時(shí),應(yīng)更換電池,充電。
手持式光譜儀使用注意事項(xiàng)
1.使用手持式光譜儀應(yīng)注意防護(hù),手持測(cè)試時(shí),測(cè)試窗口切勿對(duì)人,勿空打。
2.分析儀應(yīng)拿妥,帶好腕帶,切勿摔落及撞擊。
3.不能用指甲掐電源鍵等塑料按鍵,要用指腹操作,以免損壞塑膠鍵。
4.手持式光譜儀操作環(huán)境溫度為-5℃~25℃,端使用溫度為-10℃~49℃,不能將手持式光譜儀放在汽車后備箱等高溫地方,若手持式光譜儀過熱,應(yīng)停止工作、關(guān)機(jī)使其冷卻10分鐘左右,再重新開機(jī)、校正使用。 5.不能檢測(cè)磁性材料,否則造成手持式光譜儀損壞,不使用時(shí)應(yīng)確實(shí)關(guān)機(jī)并放入手持式光譜儀箱中存放。