適用范圍:
1.適合于檢測(cè)燈等有復(fù)雜構(gòu)造的產(chǎn)品。
2.檢測(cè)高密度的塑料產(chǎn)品，如隱形眼鏡等。
3.檢測(cè)光學(xué)晶體，如氟化鈣等。
設(shè)備規(guī)格:
1、偏光應(yīng)力儀光場(chǎng)亮度≥120cd/m2 （ 590nm橙光 50w）
2、偏光應(yīng)力儀偏振元件任何一點(diǎn)的偏振度大于等于百分之九十九
3、該款應(yīng)力儀偏振場(chǎng)200*200mm
4、偏光應(yīng)力儀構(gòu)造：檢偏鏡和起偏鏡之間分別置入1/4波片及全波片（波長(zhǎng)為565nm），1/4波片的慢軸與起偏鏡的偏振平面成90度，全波片的慢軸與起偏鏡的偏振平面成45度
5、檢偏鏡最上面有旋轉(zhuǎn)角度的測(cè)量裝置（刻度值為1度，測(cè)量范圍為180度）
檢測(cè)方法:
Sensitive-Color感光色方法檢測(cè):
感光色方法測(cè)量，刻度盤(pán)在零度時(shí)整個(gè)視野呈橙色，這種彩色分為被成為感光色。放進(jìn)樣品，存在應(yīng)力的部位呈淺白色或灰黑色,異與背景色部分。并確定應(yīng)力性質(zhì)是壓力或張力。不存在應(yīng)力的樣品部位則呈橙色,與背景色相同。
SenarmonMethod 補(bǔ)償法
Senarmont補(bǔ)償法可以進(jìn)行應(yīng)力定量分析檢測(cè)。打開(kāi)電源，未放樣品刻度盤(pán)在零度時(shí)整個(gè)視野范圍是黑褐色的，放入樣品，不旋轉(zhuǎn)檢偏鏡，觀測(cè)出最亮點(diǎn)即為應(yīng)力點(diǎn)。旋轉(zhuǎn)檢偏鏡上的刻度盤(pán)，直至最亮點(diǎn)變成黑褐色，記錄此時(shí)刻度盤(pán)旋轉(zhuǎn)的角度及該點(diǎn)的厚度，即可用公式換算出應(yīng)力值。 計(jì)算公式：應(yīng)力＝光程差/(被測(cè)點(diǎn)的光路長(zhǎng) * 光彈系數(shù)) ＝ nm [cm * (nm/cm)/Mpa]
技術(shù)參數(shù):
| 序號(hào) | 項(xiàng)目 | 參數(shù) |
| 1 | 型號(hào) | PSV-590 |
| 2 | 尺寸 | W280×D385×H390mm |
| 3 | 重量 | 11Kg |
| 4 | 測(cè)樣有效長(zhǎng)度 | W200×D200mm |
| 5 | 測(cè)量空間高度 | max240m |
| 6 | 光源 | 590nm橙光 50w |
| 7 | 電源 | 直流12V（帶有220V適配器） |
