R700型多探頭核輻射儀
簡述
德國柯雷R700型多探頭核輻射儀,在傳統手持表操作系統上全面升級為柯雷新開發的圖形界面操作系統,大大簡化了操作流程。R700主機采用3.2英寸全屏彩色觸摸屏,配合不同的探頭,可以檢測α、β、γ、Χ和中子。能量響應范圍從2keV-7MeV,分辨率高,響應速度快,且增加了的本底移除算法,可移除95%的本底。探頭采用高級航空鋁材打造,渾然一體,防水防塵。R700提供大容量數據存儲及數據閱讀功能,并可上傳到電腦保存并分析。探頭電纜最長可達100米(需定制),可選配無線探頭,大大方便了客戶的使用。
R700型多探頭核輻射儀超大顯示屏可同時顯示多種測量數據:實時值、值、最小值、報警閾值、%等,同時還可通過時域波形圖展示射線的劑量率變化情況,儀器自動進行劑量率累計。探頭內置校驗日期提醒功能,每次連接探頭的時候,主機自動提醒用戶下一次校驗的時間,以確保儀器的精度。產品有歐洲CE認證和ISO9001質量認證。
應用
R700型多探頭核輻射儀,可廣泛用在餐廳,酒店,家庭,公共場所,實驗室,采石場,金屬處理廠,油田和供油管道裝備,環境保護,局,出入境檢驗檢疫等部門,用于:
檢查食物污染
檢測液體污染
檢查周圍環境污染
檢查地下鉆管和設備的放射性
檢查石材等建筑材料的放射性
檢查瓷器餐具玻璃杯等的放射性
檢查局部的輻射泄露和核輻射污染
檢查有核輻射危險的填埋地和垃圾場
檢查個人的貴重財產和珠寶的有害輻射
檢測從科研到工業的X射線到X射線強度
R700型多探頭核輻射儀,可廣泛用在餐廳,酒店,家庭,公共場所,實驗室,采石場,金屬處理廠,油田和供油管道裝備,環境保護,局,出入境檢驗檢疫等部門,用于:
檢查食物污染
檢測液體污染
檢查周圍環境污染
檢查地下鉆管和設備的放射性
檢查石材等建筑材料的放射性
檢查瓷器餐具玻璃杯等的放射性
檢查局部的輻射泄露和核輻射污染
檢查有核輻射危險的填埋地和垃圾場
檢查個人的貴重財產和珠寶的有害輻射
檢測從科研到工業的X射線到X射線強度
主機特性
1、圖形界面操作系統
2、中英文顯示界面
3、3.2英寸全屏彩色觸摸屏
4、可連接不同類型探頭
5、主機自動識別探頭,并自動提示下一次校驗日期
6、新增本底移除功能,可移除95%的本底
7、大屏幕可同時顯示時間,實時值,值、最小值,報警閾值,%等
8、提供大容量數據存儲功能,可自動或手動存儲數據
9、4500mAh大容量充電鋰電池
10、可通過上位機軟件連接PC實現數據的存儲、傳輸和分析等
主機技術參數
量程 | 見探頭技術參數 |
傳感器種類 | 見探頭參數 |
顯示單位 | Sv/h,Gy/h,rem/h,Sv,cps,cpm,Bq/cm2 |
主機工作溫度 | -10oC至+60oC |
主機儲存溫度 | -20oC至+70oC |
顯示面板 | 3.2英寸全屏彩色觸摸LCD顯示屏 |
顯示模式 | 標準模式;時域圖模式 |
操作系統 | 圖形界面操作系統;中英文顯示界面 |
報警方式 | 聲光報警,在量程范圍內可自定義報警閾值 |
報警閾值 | 可自定義 |
通信接口 | USB |
尺寸 | L238mm;W95mm;H42mm |
重量 | 主機:350g ;探頭:500g |
電池 | 可充電4500mAh鋰電池 |
電池連續使用時間 省電模式續航時間 | >24小時 >40小時 |
探頭參數
探頭型號 | 描述 |
CS30A 閃爍體探頭 | 探測器:φ30×30mm ,靈敏度高 量 程:0.01µSv/h-1000µSv/h 靈敏度:1µSv/h≥350cps(對Cs-137) 能量響應:50keV-3MeV 相對基本誤差:≤±15% |
CS75 環境級塑料閃爍體探頭 | 探測器:φ75×75mm 塑料閃爍體 量 程:探頭劑量率:0.001µSv/h-200μSv/h 靈敏度:1µSv/h ≥1500cps(對Cs-137) 能量響應:50keV-3MeV 分辨率:0.001µSv/h |
GM30A 大型GM管探頭 | 探測器:大型GM管,有效直徑45mm,云母窗密度1.5-2mg/ cm2 量程:0. 01µSv/h-1000µSv/h 探測α、β、γ和Χ射線 能量響應:50keV-3MeV 靈敏度:1µSv/h ≥7cps(對Cs-137) 相對基本誤差:≤±15% |
GM30B 雙GM管探頭 | 探測器:雙GM管 量程:0.1µSv/h -10Sv/h 能量響應:50keV-3MeV 靈敏度:低量程:1µSv/h≥2cps(對Cs-137) 高量程:1µSv/h≥0.003cps(對Cs-137) 相對基本誤差:≤±15% |
ION-H 超高量程碳化硅探頭 | 探測器:碳化硅 量程:10Sv/h,50Sv/h,100Sv/h,200Sv/h(可選) 能量響應:30keV-2MeV 精度:≤±30% |
NS10A 硅半導體中子探頭 | 探測器:半導體中子探測器 量程:1μSv/h -100mSv/h 能量范圍:熱中子-100keV 響應時間:≤5S 相對基本誤差:≤±15% |
NS10B 硅半導體X射線探頭 | 探測器:半導體X射線探測器 量程:0.01µSv/h-1000µSv/h 管電壓范圍:2kv-1250kv 相對基本誤差:≤±15% |
CS30D 表面污染探測器 | 探測器:ZnS+塑料閃爍體探測器 有效面積:30cm2 計數范圍:1-105 探測效率:α≥30%(對239Pu);β≥25% 探測本底:每分鐘計數α≤3;β≤120 相對基本誤差:≤±15% |