透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統，如本頁面您未找到需要的產品，請直接聯系客服
透射電子顯微鏡原位STM-TEM測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。
性能指標
透射電鏡指標：
● 兼容電鏡型號及極靴；
● 可選雙傾版本，雙傾電學測量樣品桿Y軸傾角±25°（同時受限于極靴間距）；
● 保證透射電鏡原有分辨率。
電學測量指標：
● 包含一個電流電壓測試單元；
● 電流測量范圍：１ nA-30 mA，9個量程；
● 電流分辨率：優于100 fA；
● 電壓輸出范圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V；
● 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。
掃描探針操縱指標：
● 粗調范圍：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；
● 細調范圍：XY方向18 um，Z方向1.5 um；
● 細調分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。
以上就是提供的透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統-TEM樣品桿，關于價格直接咨詢。
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