iCAP™ 7200 ICP-OES 等離子體光譜儀
描述
電感耦合等離子體 (ICP) 光學發射光譜法 (OES) 是對液體和固體樣品中的痕量元素進行分析和定量的*的強大技術。
進樣系統:
該儀器出廠時已設定分析就緒的進樣參數,所以用戶不再需要優化泵速度、等離子體射頻功率和氣體流速。
- 一個 3 通道、12 轉子的蠕動泵,帶有的排液監測傳感器,提供順暢、低噪音的信號和安全的操作
- 插入式炬管座和接頭方便安裝/拆卸
- 組合式進樣系統易于重組和維護
- 增強基質耐受 (EMT)炬管設計改善了高基質樣品的操作
- 光學排液監測傳感器可監測來自霧化室的排液情況,在發現不正常排液的情況下可自動熄滅等離子體炬焰,從而節約樣品、氣體和電力
- 提供一系列的 CETAC 自動進樣器,從而能夠優化 iCAP 7200 ICP-OES 進行自動化、無人照看的分析
等離子體和射頻發生器:
- 雙向(垂直和水平)等離子體觀測
光學系統:
- 光學系統的低吹掃氣體流量有助于減少運行費用
- 高光傳輸效率的光學設計可提供優異的靈敏度
- 高分辨率中階梯光譜儀通過減少光譜重疊提高檢測準確度
- 具有熱切斷設計的恒溫控制多色器增強了長期穩定性,可在不再進行校準的情況下延長分析運行
檢測器:
- 電荷注入裝置 (CID) 檢測器: CID-86
- 可以在 175 到 847 nm 范圍內自由連續選擇波長
- 具備抗鄰近像素暈光效應的功能,減少了復雜樣品基質引起的假陽性結果
- 非破壞性讀取和隨機存取的集成改善了信背比和檢測限
軟件:
- 直觀的 Qtegra™ Intelligent Scientific Data Solution™ 平臺軟件將預加載方法模板作為標準設置,能夠進行"開箱即用"的操作