MicroTEQ-R1 顯微光譜測量系統，采用高精度微區光路平臺，通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊，實現了共焦拉曼*測量功能。幫助用戶快速的對樣品微觀結構，光譜信息進行測試和分析，大大的降低了微觀測試的復雜程度。系統使用制冷型高性能光纖光譜儀QEPro，在提供高質量信號質量的同時，保證了測試效率。精密光路設計能夠實現1um*級別的聚焦光斑和探測區域，系統可增配低波數模塊，實現75cm-1的探測范圍。
*注: 使用光纖代替共聚焦系統內的小孔(Pinhole)；1um光斑需加配100X物鏡。
