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馬爾粗糙度測量站

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上海曼戈斐光學技術有限公司(Megphy)是一家專業從事代理光學測量儀器的公司。代理品牌主要有美國Solarius、德國NanoFocus等,產品涵蓋共聚焦顯微鏡、三維表面測量儀、全自動影像測量儀、光學顯微鏡等。我們的主要產品:NanoFocus、Solarius系列,主要是通過共聚焦技術實現產品表面的高精度測量。我們的設備主要應用于電子與半導體、汽車工業、能源技術、印刷和造紙工業、安全技術、醫療技術、微系統、機械加工技術以及材料科學等。公司由具備多年專業化水準,熟悉行業應用并具備創造精神的技術人員、營銷人員組成,致力于為用戶提供高效、合適的解決方案以及優質的售前、售中和售后的全程服務,包括產品檢測、專業的產品咨詢、設備安裝調試及培訓、售后一年內免費的保養維護以及維修服務,至今贏得了眾多企業的信賴和支持!
表面測量儀器
簡要描述:馬爾MARSURF XR1 粗糙度測量站 用戶友好型表面度量的理想的低成本入門儀器。該計算機式儀器根據標準為測量室或生產提供所有常見的表面參數和輪廓。Mahr 的 MarSurf XR 1 代表了粗糙度評估軟件的成就。
馬爾粗糙度測量站 產品信息
產地類別進口

馬爾MARSURF XR1 粗糙度測量站 用戶友好型表面度量的理想的低成本入門儀器。
該計算機式儀器根據國際標準為測量室或生產提供所有常見的表面參數和輪廓。Mahr 的 MarSurf XR 1 代表了粗糙度評估軟件的成就。

  • 超過 80 種符合 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的表面參數可用于 R-、P- 和 W 輪廓
  • 帶通濾波器 Ls 符合當前標準;Ls 也可根據需要關閉或更改。
  • 全面的測量記錄
  • 快速創建 Quick&Easy 測量程序的 Teach-in 方法
  • 根據標準選擇截止和掃描長度的自動功能
  • 通過設置 Ra 或 Rz 參數支持各種校準方法(靜態和動態)
  • 可調維護和校準間隔
  • 多種測量站配置可使用自定義應用
  • 多種選項,提高系統靈活性
  • 各種用戶權限級別,避免設備被濫用,避免未人員使用

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測量原則

探針法

輸入

BFW 無導塊系統配有 MarSurf SD 26 驅動裝置和/或 PHT 有導塊系統配有 MarSurf RD 18 驅動裝置

測量范圍 mm

+/- 250 µm(高達 +/- 750 µm,3x 測桿長度)適用于 BFW 系統
350 µm 適用于 PHT 測頭系統

過濾器符合 ISO/JIS 標準

ISO 11562 標準高斯濾波
ISO 16610-21/OSO 16610-31 標準濾波

掃描長度(文本)

MarSurf GD 26 / SD 26:自動;0.56 mm*;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm,56 mm,
測量至擋塊,可變
* 掃描長度取決于 驅動裝置
RD 18:自動;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm

采樣長度數量符合 ISO/JIS

1 至 50(默認:5)

測量力 (N)

0,7 mN

表面參數

超過 80 種
符合 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的表面參數可用于 R-、P- 和 W 輪廓

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