描述
英國泰勒粗糙度儀Surtronic Duo分離式 表面光潔度檢測(cè)儀
泰勒SURTRONIC DUO粗糙度儀
型號(hào):SURTRONIC DUO
探頭系統(tǒng):探頭系統(tǒng)
表面粗糙度測(cè)量范圍:199μm,40μm
掃描路徑:5mm
表面粗糙度分辨率:0.01μm
閾值波長:0.8 mm
數(shù)據(jù)傳輸類型:USB
量 程: | 200um | |
行 程: | 5mm | |
取樣長度: | 0.8mm+/-15% | |
參 數(shù): | Ra:0.1um-40um | |
Ra:0.1um-199um | ||
精 度: | Ra:0.1um | |
Rz:0.1um | ||
檢測(cè)方式: | 壓電式 | |
尺 寸: | 125*80*38mm | |
重 量: | 200g |
應(yīng)用:
用戶友好的移動(dòng)粗糙度測(cè)量裝置,用于參數(shù)Ra,Rz,Rp,Rv,Rt,Rz1max,R3z(戴姆勒DB N 31007),Rsk,Rq和Rku的標(biāo)準(zhǔn)粗糙度測(cè)量。
執(zhí)行:
3.7“彩色液晶顯示屏,zui多顯示4個(gè)測(cè)量值
拆分顯示和進(jìn)紙單元
兩臺(tái)機(jī)器之間的藍(lán)牙連接(zui大距離2米)
粗糙度參數(shù)符合DIN ISO和ASME標(biāo)準(zhǔn)
顯示主要輪廓/參數(shù)Pa,Pz,Pp,Pv和Pt
集成滑蓋式探頭,金剛石為5μm
可以通過迷你USB端口充電
優(yōu)點(diǎn):
InstantOn,從待機(jī)模式到測(cè)量模式只需5秒鐘
操作簡單直觀,無需培訓(xùn)
測(cè)量值保存到下次測(cè)量為止
電池壽命每次充電可達(dá)3000次測(cè)量