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Topsizer Plus 激光粒度分析儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱珠海歐美克儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地珠海市
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2022/9/4 9:19:02
  • 訪問次數349
產品標簽:

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珠海歐美克儀器有限公司為擁有眾多*跨國企業的英國思百吉集團成員,同時也是科學儀器制造商馬爾文帕納科公司的一員。思百吉公司(Spectris)創建于1915年,是一家立足于制造精密儀器儀表及控制設備的跨國公司,在倫敦證券交易所上市(代碼為SXS), 同時也是倫敦證券交易所科技股指數 techMARK 和社會責任指數 FTSE4Good 的創始成員之一。歐美克秉承思百吉公司 “誠信”價值觀,提出以“be true”、“own it”、“aim high”為核心內容的“贏之有道”核心價值觀和行為準則!結合集團*的研發管理理念與強大的技術支持,歐美克為客戶提供優質的粒度檢測產品與服務,主要包括激光粒度分析儀、納米粒度儀、電阻法顆粒計數器、顆粒圖像分析處理儀、動態圖像儀、ASD近紅外光譜儀和粉體特性測試儀等七大系列產品。歐美克創立于1993年 ,是中國的顆粒測量儀器制造商、廣東省、軟件企業及廣東省粒度粒形分析儀器工程技術研究中心,具有深厚的測量理論研究功底和活躍的技術創新能力,取得多項及有價值的成果。歐美克的激光粒度分析儀被認定為火炬計劃項目和重點新產品,企業經營也卓有成效。歐美克的用戶超過8000家,涉及粉體生產企業、高等院校、科研院所等不同領域,并出口至美、英、德、日等三十多個國家和地區。歐美克及其科研人員參加了水泥、磨料、碳粉等多個行業粒度測量標準的制定,同時也是激光粒度儀2016版國標的起草單位之一。為了更好地服務新老客戶,歐美克在北京、上海、鄭州、淄博、成都分別設立了辦事處。
納米粒度儀
Topsizer Plus 激光粒度分析儀是繼廣受贊譽的Topsizer 后,作為馬爾文帕納科的全資子公司,珠海歐美克儀器有限公司推出的又一款粒度分析儀器。該儀器引入了光學設計,結合歐美克近30年的技術積累,采用化的供應鏈體系,使激光衍射法的測試范圍達0.01-3600um,代表了當前國產激光粒度儀的高技術水平。
Topsizer Plus 激光粒度分析儀 產品信息

Topsizer Plus 激光粒度分析儀是繼廣受贊譽的Topsizer 后,作為馬爾文帕納科的全資子公司,珠海歐美克儀器有限公司推出的又一款粒度分析儀器該儀器引入了光學設計,結合歐美克近30年的技術積累,采用化的供應鏈體系,使激光衍射法的測試范圍達0.01-3600um,代表了當前國產激光粒度儀的高技術水平。Topsizer Plus保持了Topsizer量程寬、重復性好、分辨力高、真實測試性能強和智能化程度高等優點,通過進一步提升光學設計、硬件和反演算法,拓展了其測試范圍以及實際測試性能,應用遍及化工、機械、建材、能源、醫藥等現代工業的各個領域。

在鋰離子電池、制藥、水文和精細化工等諸多行業,很多用戶選擇歐美克激光粒度儀,尤其是Topsizer型號,除了對歐美克品牌和技術的信賴外,還因為測試結果準確不管是制藥用的原材料、制劑還是鋰離子電池正負極材料等,Topsizer系列產品保證了測試結果和分析能力與國內外、行業上下游黃金標準保持*,這不僅為用戶節省了方法開發和方法轉移上的時間和成本,更重要的是可避免粒徑檢測不準帶來的經濟損失和風險,無論在研發、過程控制還是質量控制上,都能夠為用戶帶來真正的價值。


一、用途

測量樣品的粒度分布。既可測量在液體中分散的樣品,也可測量須在氣體中分散的粉體材料。


二、工作原理

一束平行光在傳播過程中遇到障礙物顆粒,光波會發生散射(衍射)偏轉,偏轉的角度跟顆粒的大小相關,散射(衍射)現象可以通過 “Mie散射理論 "來描述。顆粒粒徑越大,光波偏轉的角度越小;顆粒粒徑越小,光波偏轉角度越大。激光粒度分析儀就是利用顆粒對光的散射現象,根據散射光能的分布推算被測顆粒的粒度分布。

歐美克結合了源自國內外的*技術,通過對光學、算法、機械、電子、計算機等系統的整合和優化,使歐美克激光粒度儀具備重復性良好、動態測量范圍寬廣、操作簡單方便等優點。


、*的光學系統

雙光源技術

Topsizer Plus激光粒度分析儀采用雙光源設計,紅光主光源為進口氦-氖激光器,波長0.6328μm;并有半導體藍光輔助光源,波長0.466μm,大大地提高了對納米級顆粒及少量大顆粒的分辨力。在國產激光粒度分析儀中,紅藍雙色光源技術只有歐美克采用。


進口高性能氦氖激光及電源

采用長壽命,低噪聲,高穩定性著的進口氦氖激光器及配套激光電源,為儀器提供近乎*光學質量的偏振光源在氣體激光器本身帶來的穩定波長基礎上,Topsizer Plus激光粒度分析儀采用的高性能光源系統同時具備功率穩定, 預熱時間短, 偏振比高而穩定,模式純度等高性能激光粒度儀必須的光學特性。確保儀器在不同工作環境下都能保持穩定工作并帶來無需標定的準確性性能。


直線光路設計

Topsizer Plus激光粒度分析儀光路系統采用密閉式直線光路設計,無多余反射光學部件造成的雜散光,亦無粉塵污染干擾,同時采用高精度全鋁合金光學平臺,確保光路穩固可靠。


后傅立葉變換單鏡頭設計

單鏡頭設計,采用透鏡后傅立葉變換結構,突破了傅立葉透鏡的光瞳制約,使散射光大接收角不受傅立葉鏡頭口徑限制;而且單鏡頭光路中的折射、反射面減到少,可以進一步降低儀器工作時的背景噪聲*低水平,提高了儀器測量時的信噪比。

長焦距的傅里葉透鏡

Topsizer Plus激光粒度分析儀選用具有較長焦距的傅立葉透鏡,這樣增加了測量窗口到光電探測器平面的距離(也就是有效焦距),從而使光電探測器能夠準確探測到更小散射角度的散射光信號,大大增強了儀器對大顆粒的測試能力,儀器的測量上限達3600μm

合理分布、高感光度的進口光電探測器

Topsizer Plus激光粒度分析儀光電探測器為特殊定制的進口光電探測器,確保儀器具有較高的分辨力和靈敏度。探測通道數多達103個,由前向、側向、大角度和后向光電探測器組成三維立體檢測系統,大探測角大于140度,小探測角0.016度。結合藍光散射信號,實現了空間全角度范圍散射光能信號的無縫接收,有效保證顆粒散射光能信息的全面準確獲取。

智能自動對中

智能軟件控制自動對中系統保證了精確的光學對中。自動對中在幾十秒內即可完成,既可作為自動測量的一部分,亦可在屏幕上單擊鼠標來完成。智能自動對中系統保證了多次測量的重復性。


出色的分散系統

濕法進樣系統:標配SCF-108循環進樣器,采用*的循環回路設計,大功率精密離心泵,攪拌速度可達4000轉/分鐘,具有高效率的分散、清洗、排干能力。內置大功率100W超聲探頭,超聲強度無級連續可調。標配1000毫升樣品池,可根據客戶需求更換容量。

可選SCF-105B全自動循環進樣器,除加樣外的粒度測試操作均可自動控制完成。進樣池采用316L不銹鋼,配置高效率50W底部超聲及速度可達4000轉/分鐘的精密攪拌裝置,均連續可調。

根據需要可選擇更多不同特性(例如微量、微量循環、耐腐蝕等)的濕法進樣器。

干法進樣系統:標配DPF-110自動干法進樣器,分散氣壓0.05-0.6MPa無級可調,三重可調下料機

構設計,可適應于各種樣品測試對分散強度的要求。內置分散壓傳感器和負壓傳感

器,測試窗口全密閉,具有負壓保護裝置,可有效防止窗口和主機的污染。


四、功能強大的分析軟件

豐富的自定義報表功能,方便用戶靈活的獲取數據和定制報表樣式。

用戶可以靈活定義報告的標題、Logo,選擇在報告中顯示的模塊,并對這些模塊進行設置。如可調整行數、列數,坐標軸范圍,報告內容和參數等均可根據需要設定。


軟件設計模塊化,儀器狀態可視化,操作界面人性化。流程界面清晰明了,擁有導航功能。

儀器具備智能化自動化操作。能夠自檢和自動識別進樣系統;每次測量前能自動測量電背景,有效消除電噪聲對測試結果的影響。配置自動化進樣器可以進行全自動干濕法粒度測試,手動測樣亦有清晰的導航測試功能。

具備SOP標準操作流程,減少人為因素的影響,使分析測試流程標準化

SOP測量程序編輯及運行:

多種數據分析模型,滿足不同特性樣品的測試需要。體積分布、表面積分布、長度分布和數量分布之間可以相互轉換。可根據用戶需要設置的粒徑段。


完善、開放的樣品特性參數數據庫,具有常用樣品折射率和吸收率參數。

多種方式的測量數據導出,方便數據交流。


具有兼容CFDA/FDA  cGMP 21CFR 要求的用戶分級、權限管理、數據完整性及可追溯功能


五、優異的儀器性能

Topsizer Plus對于Topsizer的升級中的一個重要特點是保留了 0.02-2000um段數據與 Topsizer*。通過光路、硬件和算法的升級進一步提升了測試范圍0.01-3600um


寬廣的測量范圍

與市場上其他使用不同技術通過拼接的方案提高測試范圍不同,Topsizer Plus的實測范圍為0.01-3600um,使用靜態光散射一種技術實現從亞微米顆粒到毫米級顆粒的檢測,嚴格符合GBT19077-2016粒度分析激光衍射法的國標要求,并能滿足不同粉體行業對顆粒粒度檢測與控制的各種需求。


寬分布樣品


對大顆粒具有強大測試能力

7-14目玻璃微珠


對納米、亞微米等超細顆粒具備強識別能力

100nm latex


杰出的分辨能力

Topsizer Plus能夠精確測定樣品中顆粒分布的微小變化,準確反映樣品的實際粒度分布,能充分滿足技術研究和質量控制的需要。圖中的混合物樣品為5.1um/14um/37.8um標樣按比例配置。


良好的重復性

Topsizer Plus采用全自動的激光校正系統、自動對中系統,從而確保了激光角度校準的準確度,避免了光路的飄移,確保測試的重復性誤差小于0.5%(標準粒子D50)。

取樣/

D10/μm

D50/μm

D90/μm

1

3.848

4.995

6.322

2

3.845

4.995

6.328

3

3.834

4.986

6.319

Average

3.842

4.992

6.323

SD

0.007

0.005

0.005

RSD (%)

0.19

0.09

0.08


良好的再現性

不同主機或不同進樣器之間具有良好的再現性。


快速的測試速度

Topsizer Plus優秀快速的分散系統為儀器的快速測試提供了良好前提,使常規的測試能在10秒內快速完成,大幅提升了測試的效率,更好的滿足了用戶的需求。


高靈敏度

多達103個光電探測通道,由雙光源及前向、側向、大角度、后向光電探測器組成三維立體無盲區檢測系統,大探測角度140度。每次測試之前,軟件自動檢測信噪度,使儀器對大小顆粒的微小變化有著超高的靈敏度。


強適應性

可選具有強分散能力分散系統,即使對于超大密度的金屬粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀,從而盡可能滿足各種不同密度的顆粒粒度測試的需要。


六、技術指標

1.測量范圍:0.01-3600μm(濕法,取決于樣品),0.1-3600μm(干法,取決于樣品)

2.測量原理:全量程米氏散射理論

3.重復性誤差:≤0.5%(標樣D50偏差)

4.準確性誤差:≤±0.6%(標樣D50偏差)

5.測量速度:常規測量10秒內完成

6.進樣方式:

濕法自動化測試*,進樣器采用帶進口電機的大功率精密離心泵,攪拌速度可達4000轉/分鐘,內置超聲,均為無級連續可調(*配SCF-105B時);

干法自動化測試*,進樣器分散工作壓力0.05-0.6MPa無級連續可調,壓電陶瓷晶體振動進樣速度0-99% 無級連續可調。(*配DPF-110時)。

7.光路系統:

雙光源設計,采用進口氦-氖激光器,波長0.6328微米;并有半導體藍光光源,波長0.466微米,大大地提高了對納米級顆粒及少量大顆粒的分辨力。激光功率始終穩定,功率波動小于0.5%;

儀器設計符合激光安全規范,具備激光束自動防護功能;

采用一體式高精度全鋁合金光學平臺,長期穩固可靠;

單鏡頭設計,采用透鏡后傅立葉變換結構。光路系統全封閉,有效解決粉塵污染問題;

探測器自動對中。

8.檢測器:

探測通道數103個,由前向、側向、大角度和后向光電探測器組成三維立體檢測系統,大探測角140度,小探測角0.016度,無盲區。

9.軟件功能:

豐富的自定義報表功能,方便用戶靈活的獲取數據和定義報表樣式;

軟件設計模塊化,儀器狀態可視化,操作界面人性化;

具備SOP標準操作流程功能;

多種數據分析模型,滿足不同特性樣品的測試需要;

有導航功能的清晰、明了的流程界面;

具備人工智能,儀器具備自檢功能,自動識別進樣系統;

每次測量前能自動測量電背景,有效消除電噪聲對測試結果的影響;

多種方式的測量數據導出,方便數據交流;

完善、開放的樣品特性參數數據庫,具有常用樣品折射率和吸收率參數;

體積分布、表面積分布、長度分布和數量分布之間可以相互轉換。

提供符合GMP附件《計算機化系統》要求的軟件解決方案,具備用戶分級、權限管理、數據完整性及可追溯功能。

10.外觀尺寸:

主機:1330×266×380 mm

循環進樣器:265×325×405mm(SCF-108),210×260×345mm(SCF-105B)

干法進樣器:305×245×295mm(DPF-110)

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