產(chǎn)品主要功能和優(yōu)勢(shì):
1) 奧地利Anton Paar公司Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀采用40mW 658nm高能半導(dǎo)體激光器,結(jié)合超高靈敏的光路設(shè)計(jì)和APD檢測(cè)器,將粒度測(cè)試和Zeta電位測(cè)試的靈敏度和準(zhǔn)確度提高到的高度;
2) 奧地利Anton Paar公司Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀的粒度測(cè)試采用三個(gè)角度(15o, 90o, 175o) ,結(jié)合非侵入式背散射技術(shù),同時(shí)符合ISO13321和ISO22412國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),具有極寬的適用性;
3) 奧地利Antong Paar 公司Litesizer 500納米粒度及Zeta的電位分析儀Zeta電位測(cè)試采用cmPALS技術(shù),相比傳統(tǒng)的PALS技術(shù),可在更低電壓下測(cè)試,縮短了測(cè)量時(shí)間,同時(shí)大大提高了重復(fù)性和準(zhǔn)確度;
4) 優(yōu)化的Zeta 電位樣品池,具有的 Ω 形毛細(xì)管。這種形狀意味著電泳光散射 (ELS) 測(cè)量可不受測(cè)量位置影響,在測(cè)試通道內(nèi)形成均勻電場(chǎng),保證結(jié)果的穩(wěn)定性和可重復(fù)性;
5) 奧地利Anton Paar公司Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀實(shí)時(shí)測(cè)定透光率。儀器根據(jù)透光率自動(dòng)設(shè)置測(cè)試參數(shù),比如聚焦位置、檢測(cè)角度、濾光強(qiáng)度以及測(cè)試時(shí)間;
6) 奧地利Antong Paar公司Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀所有光學(xué)器件放置在內(nèi)置保護(hù)殼中,降低振動(dòng)帶來(lái)的影響,確保測(cè)量不受灰塵或溫度波動(dòng)影響;
7) 基于WIN 10平臺(tái)開(kāi)發(fā)的軟件,簡(jiǎn)明易用,所有內(nèi)容都集中在一個(gè)頁(yè)面上,輸入?yún)?shù)、測(cè)量和分析集中在一個(gè)頁(yè)面,只需輕觸一鍵即可完成測(cè)試;
8) 奧地利Anotn Paar公司Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀可測(cè)試分子量,第二維利系數(shù)A2。