集成電路IC芯片溫度沖擊測試機 熱流罩
ThermoTest TS-780高低溫沖擊氣流儀的性能達到了更高的標準。TS-780以速度、精度和可靠性作為基本設計標準,提供了非常*的溫度測試能力。溫度轉換從-55℃到+125℃之間轉換Z快僅需10秒,并有更廣泛的溫度范圍-80℃到+225℃; 經長期的多工況驗證,滿足更多生產環境和工程環境的要求。TS-780是純機械制冷,無需液氮或任何其他消耗性制冷劑。
集成電路IC芯片溫度沖擊測試機 熱流罩
ThermoTest TS-780高低溫沖擊氣流儀應用
特性分析、高低溫溫變測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗,如:芯片、微電子器件、集成電路(SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等)閃存Flash、UFS、eMMC PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、傳感器、小型模塊組件光通訊(如:收發器 Transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)其它電子行業、航空航天新材料
特點
溫度變化速率快,-55℃至+125℃之間轉換Z快僅需10秒
廣泛的溫度范圍,-80℃至+225℃
結構緊湊,移動式設計
觸摸屏操作,人機交互界面
快速DUT溫度穩定時間
溫控精度±1℃,顯示精度±0.1℃
氣流量可高達18SCFM
除霜Z利設計,快速清除內部的水汽積聚
測試標準
滿足美GJ用標準MIL體系測試標準
滿足國內J用元件GJB體系測試標準
滿足JEDEC測試要求
聚焦超低溫,低溫,環境模擬,可靠性輔助測試解決方案
超過15年行業技術沉淀,掌握核心技術
多項技術,細分領域獨角獸
持續的創新產品和服務,為客戶提供更加滿意的體驗
(顯示價格供參考,實際價格以報價為準)