X射線斷層掃描技術作為一種具有*的功能的無損檢測技術,可以用來分析增材制造(AM)產品的缺陷。缺陷的類型包括氣孔、表面粗糙不平、尺寸偏差等。其形成的原因由于樣品的不同而有較大的差異。粉末性能、輸送粉末時不均勻、制造過程中的變形、激光束變化時造成的工藝參數的偏離、光學部件和掃描系統的操作等均會造成未熔合氣孔、冶金氣孔、匙孔效應氣孔的生成。這些不同類型的氣孔具有不同的類型尺寸、形狀和3D空間分布,所有類型的缺陷均會對終產品的機械性能造成影響。采用X射線斷層掃描技術在零件進行機械性能測試前進行無損觀察,可以有助于我們更好地理解氣孔缺陷對部件機械性能的影響(也稱之為缺陷的影響)。這些可以為我們提前辨別出有危害的部件提供了可能。由此為我們使用AM產品建立了更大的信心。本文則綜述了當前AM技術對缺陷的影響,并對近的相關工作做了總結。
蔡司工業CT系統METROTOM 6 scout(GOM CT)以精細的細節數字化復雜零件,包括內部幾何形狀。您將獲得用于GD&T分析或名義實際比較的完整3D圖像。計量工業CT擅長數字化小型塑料零件。
X射線源 | 225 kV |
X射線探測器 | 分辨率:3008 x 2512像素 |
測量面積 | d:240毫米h:400毫米 |
體素大小 | 2 μm-80 μm |
尺寸 | 高2210毫米寬 |
重量 | 4800公斤 |
應用領域 | *檢查,工具校正,持續生產中的檢查 |
檢查功能 | 內部結構,壁厚,材料缺陷,氣孔和縮孔 |
測量任務 | GD&T分析,名義-實際比較,組裝分析 |