蔡司3D無損檢測 X射線斷層掃描設備Xradia 410 Versa彌補了高性能X射線顯微鏡與功能不強的計算機斷層掃描(CT)系統之間的差距。 Xradia 410 Versa提供具有行業*佳分辨率，對比度和原位功能的非破壞性3D成像，使您能夠針對*廣泛的樣本量進行突破性研究。 使用這種功能強大，經濟高效的“主力”解決方案增強成像工作流程，即使在不同的實驗室環境中也是如此
靈活的樣品尺寸和類型的行業的4D和原位能力
蔡司3D無損檢測 X射線斷層掃描設備Xradia 410 Versa X射線顯微鏡可提供經濟高效，靈活的3D成像，使您能夠處理各種樣品和研究環境。隨著時間的推移，非破壞性X射線成像可以保留并擴展您寶貴樣品的使用范圍。該儀器實現了0.9μm的真實空間分辨率，*小可實現的體素尺寸為100 nm。*的吸收和相位對比(適用于軟質或低Z材料)為您提供更多功能，以克服傳統計算機斷層掃描(CT)方法的局限性。
蔡司3D無損檢測 X射線斷層掃描設備Xradia Versa解決方案將科學研究擴展到超出基于投影的微米和納米CT系統的極限。傳統斷層掃描依賴于單級放大倍率，Xradia 410 Versa采用基于同步加速器 - 口徑光學系統的*兩階段過程。它易于使用，具有靈活的對比度。遠距離突破分辨率(RaaD)使您能夠在原生環境和各種現場鉆機中保持廣泛的樣品尺寸的亞微米分辨率。非破壞性多長度尺度功能允許您在各種放大倍率下對同一樣品進行成像，從而可以*地表征連續處理(4D)之間或受到模擬環境條件影響時材料微觀結構特性的演變(原地)。
此外，Scout-and-Scan控制系統可通過基于配方的設置實現高效的工作流程環境，使Xradia 410 Versa易于為具有各種經驗水平的用戶提供便利。
