絕緣電阻測試系統(tǒng)AMI
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| 可在高溫或高濕狀態(tài)下對試驗樣品通電，連續(xù)進行高精度絕緣阻抗變化的檢測。 | |
| 可用μsec單位間隔對離子遷移的發(fā)生造成的漏電進行檢測。 | |
| 可廣范圍檢測絕緣阻抗，并能夠分別設(shè)定通電電壓及時間。 | |
| 使用電腦對試驗設(shè)備進行監(jiān)控的同時采集試驗數(shù)據(jù)并進行各種統(tǒng)計分析。 | |
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| 型號 | AMI |
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| 絕緣電阻測試范圍 | 1×10 6 Ω~3×10 13 Ω(3pA~100μA) |
| 漏電檢測范圍 | 1~100μA |
| 測試電壓/通電電壓 | DC3V~100V/DC3V~100V |
| 測試時間 | zui長9,999小時 |
| 電阻測試間隔 | zui短6分鐘 |
| 電阻測試時間 | 一次測試所需時間：標準60秒/25通道+充電時間 |
| 漏電流檢測間隔 | 常時，檢測速度：μsec指令 |
| 測試通道數(shù) | 標準25通道(zui多100～150通道) |
| 控制電纜 | 耐熱+200℃，雙層屏蔽結(jié)構(gòu) |
| 系統(tǒng)柜尺寸 | W530×H1800×D1100mm |
| 電源要求 | AC100V,1Φ.15A |
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