布魯克推出了新型微聚焦XRF—M6 JETSTREAM。M6 JETSTREAM是布魯克針對大樣品原位無損分析而開發的新產品。可移動設計使得用戶可以隨意將M6 JETSTREAM移動到自己感興趣的樣品前進行分析，比如畫廊、博物館或者工作現場。M6 JETSTREAM可以實現800mmx600mm的大面積掃描，微束斑的直徑可低至100μm，掃描速度可達100mm/s。
M6 JETSTREAM特色應用領域:
文物分析——能夠現場原位分析樣品，使用戶免去了搬運樣品的麻煩，同時避免了在搬運中對文物可能造成的損壞。
地球科學——可分析大鉆芯樣或者其他礦物樣品。
故障分析——可用于大部件樣品的缺陷篩查、不均勻性分析，以及其他感興趣的問題。
M6 JETSTREAM用于文物樣品檢測
主要特點：
1.M6 JETSTREAM不僅可以分析水平放置的樣品，還可以分析垂直放置的樣品。
2.在高激發強度以及樣品臺的快速移動情況下，仍可實現快速檢測。
3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之內，根據樣品結構及所需空間分辨率調整到相應的尺寸。
4.采用布魯克*的XFlash®硅漂移探測器，該探測器具有很高的計數率能力，在很寬的計數率范圍內擁有能量分辨率。
5.特別的安全電路為用戶提供X射線輻射風險防范措施。
6.超聲波測距措施可以防止儀器與被測樣品發生碰撞。
7.由于M6 JETSTREAM的可移動性，不論樣品結構如何，它都可以很容易的準確定位。另外，M6 JETSTREAM可以很方便的拆卸成四部分，使其便于攜帶。
