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集成礦物分析儀 TIMA3 LMU/LMH

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具體成交價以合同協(xié)議為準
產(chǎn)品標簽:

穩(wěn)定性

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鉑悅儀器自2004年成立以來,憑借與世界各大儀器的戰(zhàn)略合作關(guān)系,以及不斷優(yōu)化公司自身經(jīng)營管理,提高服務質(zhì)量,成為中國國內(nèi)的儀器供應商。鉑悅儀器所提供的產(chǎn)品均屬于高科技行業(yè),產(chǎn)品包括高精度的分析儀器、檢測儀器和生產(chǎn)設備,以及配套的耗材和配件,這些產(chǎn)品廣泛應用于工業(yè)、半導體、太陽能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、生物、能源、電子、石化等各個領(lǐng)域并服務于各大院校、研究所、檢測機構(gòu)、及政府部門等。
鉑悅儀器不僅擁有高品質(zhì)的產(chǎn)品,更培養(yǎng)了專業(yè)的銷售、技術(shù)和售后服務團隊,本著客戶*的原則,從客戶的實際需求出發(fā),鉑悅儀器為每一位客戶量身訂制Z適合的綜合解決方案,并提供持續(xù)而良好的售后服務,由此也獲得了廣大客戶的信任與認可。
鉑悅儀器的總公司設立在上海,并在北京、廣州、成都等地共設立了七個辦事處,在能及時引進*進技術(shù)的同時,保證了鉑悅儀器能快速、有效的為全國各地的客戶提供良好的服務。
 公司銷售產(chǎn)品:
  -美國BRUKER 臺階儀;光學輪廓儀
-AFM原子力顯微鏡;AFM原子力顯微鏡探針
-X-Ray鍍層測厚儀;X射線熒光能譜儀(EDXRF)
-便攜式微區(qū)X射線熒光光譜儀ARTAX
-S2全反射光譜儀; X射線衍射儀(XRD)
-CETR摩擦磨損測試儀; 納米壓痕儀
-直讀光譜儀
-手持式X射線熒光分析儀(合金分析儀)
-手持式藝術(shù)與考古分析儀
-能譜 (EDS);波譜(WDS);電子背散射衍射(EBSD); X射線微區(qū)熒光(Micro-XRF);Micro-CT
-德國Mahr測長機
-圓度、圓柱度儀(光學軸類測量儀)
-粗糙度輪廓儀
-齒輪測量儀
-光學非球面測量儀(光學自由曲面測量儀)
-鎢燈絲掃描電鏡SEM
-場發(fā)射掃描電鏡FE-SEM
-超高分辨場發(fā)射掃描電鏡
-集成礦物分析儀
-聚焦離子束Xe掃描電鏡FIB
-雙束聚焦離子束掃描電鏡
-超高分辨聚焦離子束掃描電鏡
-TOF-SIMS及Raman電鏡聯(lián)用技術(shù)(石墨烯);
-電子束曝光
 

BRUKER臺階儀,光學輪廓儀,VEECO探針,BRUKER探針,臺階儀探針,AFM探針,原子力顯微鏡探針,哈氏槽,赫爾槽,電鍍槽,電鍍陽極,哈氏槽整流器,英國OXFORD光譜儀、X熒光分析儀、能譜儀,加拿大P&P拉曼光譜儀,美國PROTOFLEX量子效率、IV測試及PECVD、CVD,德國FPM天頂天底儀,實驗室通用耗材等
TIMA3 LMU/LMH是一款基于鎢燈絲掃描電子顯微鏡設計的集成式礦物分析專家,適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應用。TESCAN的*技術(shù)是基于一個*集成的EDX系統(tǒng),能以非常快的速度執(zhí)行全譜掃描,可用于礦石特性檢測、工藝優(yōu)化、修復技術(shù)和貴金屬與稀土的尋找。SEM和EDX硬件的集成水平實現(xiàn)了以*的采集速度*自動化的數(shù)據(jù)采集,并得到快速、準確和可靠的結(jié)果。
集成礦物分析儀 TIMA3 LMU/LMH 產(chǎn)品信息

zui重要的特性:

通過高水平的SEMEDX硬件集成實現(xiàn)了快速、*自動化的數(shù)據(jù)采集;

基于VEGA SEM平臺;

新設計的樣品臺集成了BSE/EDX校正標準和法拉第杯;

根據(jù)客戶的需求更改樣品的尺寸;

zui多集成4EDX探測器確保系統(tǒng)的性能zui高;

新的Peltier冷卻型EDX探測器確保熱穩(wěn)定性;

改進的方法使數(shù)據(jù)分析既快又可靠;

根據(jù)樣品的每個部分可調(diào)整掃描和EDX分析的時間;

離線數(shù)據(jù)處理;

各種各樣的數(shù)據(jù)分析模塊;

可自定義的分類規(guī)則;

可定制的解決方案。


技術(shù)參數(shù):

1.分辨率:高真空(二次電子)1.2nm at 30kv,
               (背散射電子):2 nm at 30 kV
         低真空(低真空二次電子)﹕1.5 nm at 30 kV 
2.放大倍數(shù):2 ~ 1000000倍; 
3.真空系統(tǒng): 低真空7~500Pa
4.加速電壓0.2kV to 30Kv 
5.電子束電流2pA~200nA 
6.樣品室內(nèi)部直徑:230mm(寬)
7.樣品臺行程: 
全計算機控制優(yōu)中心樣品臺 
X=79mm----馬達控制 
Y=29mm----馬達控制 
Z=29mm----馬達控制



 

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