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熱場發射超大樣品室掃描電鏡 MIRA 3 GMU/GMH

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掃描電鏡

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鉑悅儀器自2004年成立以來,憑借與世界各大儀器的戰略合作關系,以及不斷優化公司自身經營管理,提高服務質量,成為中國國內的儀器供應商。鉑悅儀器所提供的產品均屬于高科技行業,產品包括高精度的分析儀器、檢測儀器和生產設備,以及配套的耗材和配件,這些產品廣泛應用于工業、半導體、太陽能、醫藥、醫療器械、生物、能源、電子、石化等各個領域并服務于各大院校、研究所、檢測機構、及政府部門等。
鉑悅儀器不僅擁有高品質的產品,更培養了專業的銷售、技術和售后服務團隊,本著客戶*的原則,從客戶的實際需求出發,鉑悅儀器為每一位客戶量身訂制Z適合的綜合解決方案,并提供持續而良好的售后服務,由此也獲得了廣大客戶的信任與認可。
鉑悅儀器的總公司設立在上海,并在北京、廣州、成都等地共設立了七個辦事處,在能及時引進*進技術的同時,保證了鉑悅儀器能快速、有效的為全國各地的客戶提供良好的服務。
 公司銷售產品:
  -美國BRUKER 臺階儀;光學輪廓儀
-AFM原子力顯微鏡;AFM原子力顯微鏡探針
-X-Ray鍍層測厚儀;X射線熒光能譜儀(EDXRF)
-便攜式微區X射線熒光光譜儀ARTAX
-S2全反射光譜儀; X射線衍射儀(XRD)
-CETR摩擦磨損測試儀; 納米壓痕儀
-直讀光譜儀
-手持式X射線熒光分析儀(合金分析儀)
-手持式藝術與考古分析儀
-能譜 (EDS);波譜(WDS);電子背散射衍射(EBSD); X射線微區熒光(Micro-XRF);Micro-CT
-德國Mahr測長機
-圓度、圓柱度儀(光學軸類測量儀)
-粗糙度輪廓儀
-齒輪測量儀
-光學非球面測量儀(光學自由曲面測量儀)
-鎢燈絲掃描電鏡SEM
-場發射掃描電鏡FE-SEM
-超高分辨場發射掃描電鏡
-集成礦物分析儀
-聚焦離子束Xe掃描電鏡FIB
-雙束聚焦離子束掃描電鏡
-超高分辨聚焦離子束掃描電鏡
-TOF-SIMS及Raman電鏡聯用技術(石墨烯);
-電子束曝光
 

BRUKER臺階儀,光學輪廓儀,VEECO探針,BRUKER探針,臺階儀探針,AFM探針,原子力顯微鏡探針,哈氏槽,赫爾槽,電鍍槽,電鍍陽極,哈氏槽整流器,英國OXFORD光譜儀、X熒光分析儀、能譜儀,加拿大P&P拉曼光譜儀,美國PROTOFLEX量子效率、IV測試及PECVD、CVD,德國FPM天頂天底儀,實驗室通用耗材等
IRA 3 GMU/GMH是TESCAN推出的場發射掃描電子顯微鏡系列中樣品室Z大的一款,以高品質,*計算機控制,用戶友好界面為基礎的系列產品.具有很多用戶使用方便,產品質量穩定,分析高效為特點的*設計。
技術參數:
1. 分辨率:高真空(二次電子)1.0nm at 30kV
(背散射電子): 2.0 nm at 30 kV
低真空
熱場發射超大樣品室掃描電鏡 MIRA 3 GMU/GMH 產品信息

IRA 3 GMU/GMHTESCAN推出的場發射掃描電子顯微鏡系列中樣品室zui大的一款,以高品質,*計算機控制,用戶友好界面為基礎的系列產品.具有很多用戶使用方便,產品質量穩定,分析高效為特點的*設計。  

技術參數:

1. 分辨率:高真空(二次電子)1.0nm at 30kV
                (
背散射電子): 2.0 nm at 30 kV 
          
低真空(低真空二次電子)1.5 nm at 30 kV
2.
放大倍數:1 to 1000000x 
3.
真空系統:電子槍真空<3*10 -7Pa                     
           
樣品室/低真空7-500Pa
4.
加速電壓0.2kV to 30Kv 
5.
電子束電流2pA—200nA

6.內部直徑: 340mm 
接口數: 20+ 
7.
樣品臺行程:5軸馬達控制) 
X=130mm——馬達控制 
Y=130mm——馬達控制 
Z=100mm——馬達控制 
R=360°連續--馬達控制 
T=-80°+90°--馬達控制
zui大樣品高度145mm.

主要特點:

國內使用中文操作界面的電鏡廠商 
1.
電磁式電子槍自動對中
2.
可以提供五種觀察影像模式:分辨率模式;景深模式;視野模式;大視野模式,channeling模式,可以非常方便尋找樣品位置;
3.
*的低真空二次電子探測器(LVSTD). 
4.
紅外線樣品室內攝像裝置,可以在測量同時觀測樣品
5.
真空系統采用一臺機械泵和一臺分子泵,電子槍部分使用離子泵,抽真空速度快,在更換樣品后,三分鐘內就可達到待測狀態;并且不需要使用冷卻水冷卻。 
6.采用內置的主動式電磁減震系統,大大減少了對環境的要求。
7.*的軟件系統,在數據儲存數據記錄數據打印等方面具有多種創新功能
8.20
個以上外擴展接口,可安裝更多的附件 
9.可進行遠程控制

關鍵詞:電子顯微鏡
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